拖尾测量测试卡

拖尾测量测试卡简介

拖尾测量测试卡TE175设计用于测量在区域右侧或下方的黑色区域中的视频电平引起的干扰。由水平白色线条排列在黑色背景上组成。

拖尾测量的定义

测量由在区域右侧或下方的黑色区域中的视频电平引起的干扰。该干扰的特征在于，在恢复对应于黑色的正常视频电平的视频电平之前，测量延迟的持续时间。

测量设备

视频电平表B / W监视器，示波器，低通滤波器：500 KHz

测量条件

必须调整图表照明，使白条给出平均光圈设置为100％的信号。

增益：0dB

伽马校准：OFF

轮廓校准：OFF

膝部校准：OFF

基座=标称视频电平的5％（= 35 mV）

测量程序

在示波器上显示穿过白线的线，并在R，G，B输出端进行测量。重复测量以确认在各种情况下监视器上观察到的条纹性质。为了区分过曝的效果和条纹的效果，可以将不受穿过白色表面的仅受过曝影响的线的数目作为参考进行不同的测量。

结果介绍

条纹中黑色电平的最大峰值偏差与条纹外部的相邻黑色相比。必须小心避免白色条纹的过曝效应。结果以标称幅度700 mV / 75Ω的百分比给出。